貴金屬執行標準

標準號

名稱

適用范圍

實施日期

GB 11887-2012

首飾 貴金屬純度的規定及命名方法

本標準規定了首飾中貴金屬的純度范圍、印記、測定方法和貴金屬首飾的命名方法。

本標準適用于首飾行業和國內生產及銷售的貴金屬首飾。貴金屬擺件參照執行。

2013-05-01

GB/T18043-2013

貴金屬首飾含量無損檢驗方法-X射線熒光光譜法

本標準規定了應用X射線熒光光譜測定首飾中貴金屬含量的方法及要求。

本標準適用于首飾和其他工藝品的定性分析及其中的貴金屬（金、銀、鉑、鈀）含量的篩選檢測。

2014-03-01

QB/T 2062-2015

貴金屬飾品

本標準規定了貴金屬飾品（以下簡稱飾品）的分類、要求、試驗方法、檢驗規則及標志、包裝、運輸、貯存。
　　本標準適用于金、銀、鉑、鈀等貴金屬及其合金制成的首飾，也適用于貴金屬及其合金制成的工藝品及擺件。

2016-03-01

QB/T 1690-2021

貴金屬飾品質量測量允差的規定

本標準規定了貴金屬飾品的質量測量允差時天平的要求、計算和判定及標識，界定了術語和定義，描述了相應的測量方法。

本標準適用于以質量作為結算依據，且質量不大于20000g的貴金屬飾品的貿易。

2022-04-01

GB/T 28020-2011

飾品

有害元素的測定

X射線熒光光譜法

本標準規定了飾品中有害元素的X射線熒光光譜檢測方法。

本標準適用于各種材質的飾品（珠寶玉石除外）表層中有害元素的檢測。

2012-02-01

GB/T28021-2011

飾品

有害元素的測定

光譜法

本標準規定了飾品中有害元素的含量及溶出量的光譜測定方法。本標準適用于飾品中有害元素的含量及溶出量的測定。

2012-02-01

GB28480-2012

飾品 

有害元素限量的規定

本標準規定了飾品中有害元素的種類及其限量。本標準適用于各種材質的飾品(玉石除外)

2013-05-01

GB/T19719-2005

首飾

鎳釋放量的測定  光譜法

本標準規定了首飾中鎳的釋放量的測試方法，以測定該樣品鎳的釋放量是否大于0.5μg/(cm²·week)。本標準適用于GB11887-2002中4.3.2所規定的含鎳首飾鎳釋放量的測試，也適用于長期接觸人體皮膚的制品。

2005-09-01

GB/T17832-2021

銀合金首飾

 銀含量的測定

溴化鉀容量法

(電位滴定法)

本文件描述了采用溴化鉀容量法(電位滴定法)測定銀合金首飾中銀含量的方法。本標準適用于銀含量800‰～990‰的銀合金首飾、工藝品及其材料。這些銀合金中可能含有銅、鋅、鎘和鈀，這些元素除鈀應在滴定前先進行沉淀分離外，其余元素的存在不會干擾本測定方法。

本方法被GB11887指定為銀合金首飾中銀含量測定的仲裁方法。

2022-05-01

GB/T 9288-2019

金合金首飾 

金含量的測定灰吹法（火試金法）

本標準規定了采用灰吹法（火試金法）測定金合金首飾及其相關制品中含金量的方法。本標準適用于金含量在333.0‰～999.5‰的各種金合金首飾及相關制品（不含鉑、銠等不溶于硝酸的成分）金含量的測定。

本標準被GB 11887指定為金合金首飾中金含量分析的仲裁方法。

2020-05-01

GB/T38145-2019

高含量貴金屬合金首飾 金、鉑、鈀含量的測定 ICP差減法

本標準規定了采用電感耦合等離子發射光譜法（ICP-OES）測定高含量的貴金屬合金首飾中的雜質元素含量來確定金合金首飾中的金含量、鉑合金首飾中的鉑含量、鈀首飾中的鈀含量的方法。

本標準適用于含量為995.0‰～999.9‰的貴金屬合金首飾及貴金屬合金。

2020-05-01

GB/T38162-2019

高含量銀合金首飾 銀含量的測定 ICP差減法

本標準規定了采用電感耦合等離子發射光譜法（ICP-OES）測定高含量銀合金首飾中的雜質元素含量來確定銀含量的方法。

本標準適用于銀含量為995.0‰～999.9‰的銀合金首飾，銀合金制品可參照使用。

2020-05-01

GB/T40114-2021

貴金屬含量的測定 ICP差減法

本文件規定了通過測定金、鉑、鈀合金首飾中雜質元素含量來確定貴金屬含量的方法。

本文件適用于金含量為725‰～999‰金合金首飾，鉑含量為800‰～999‰鉑合金首飾，鈀含量為800‰～999‰鈀合金首飾

2021-12-01

GB/T28019-2011

飾品 六價鉻的測定 二苯碳酰二肼分光光度法

本標準規定了飾品中六價鉻的二苯碳酰二肼分光光度測定方法。

本標準適用于飾品中六價鉻的測定。

2012-02-01

QB/T1131-2005

首飾

金覆蓋層厚度的規定

本標準規定了首飾制品金覆蓋層厚度的術語和定義、要求、檢驗方法和標識。本標準適用于非金基體的首飾制品。

2006-05-01

QB/T1132-2005

首飾

銀覆蓋層厚度的規定

本標準規定了首飾制品銀覆蓋層厚度的術語和定義、要求、檢驗方法和標識。本標準適用于非銀基體的首飾制品。

2006-05-01

QB/T1135-2006

首飾

金、銀覆蓋層厚度的測定

X射線熒光光譜法

本標準規定了用X射線熒光光譜法測量首飾金、銀覆蓋層厚度的方法。本標準適用于首飾及其它工藝品中金、銀等覆蓋層厚度的測定(覆蓋層與基體為非相同材質)。注：本方法測定的覆蓋層厚度相當于足金或足銀的厚度，可根據實際金、銀覆蓋層含量進行折算。

2006-12-01

GB/T 16921-2005

ISO3497：2000

金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量 X射線光譜方法

本標準規定了應用X射線光譜方法測量金屬覆蓋層厚度的方法。

本標準所用的測量方法基本屬于測定單位面積質量的一種方法。如果已知覆蓋層材料的密度，則測量結果也可以用覆蓋層的線性厚度表示。

本測量方法可同時測量三層覆蓋層體系，或同時測量三層組分的厚度和成分。

給定覆蓋層材料的實際測量范圍主要取決于被分析的特征X射線熒光的能量以及所允許的測量不確定度，而且因所用的儀器設備和操作規程而不同。

2006-04-01

QB/T2630.1-2004

金飾工藝畫

第1部分：金膜畫金層

本部分規定了金膜畫金層的要求和試驗方法。

本部分適用于在金膜上印刷各種文字、圖案、書畫、照片等金膜畫的金層。

2005-01-01

QB/T2630.2-2004

金飾工藝畫

第2部分：金箔畫金層

本部分規定了金箔畫金層的要求和試驗方法。

本部分適用于金箔畫的生產和檢驗。其他貼金膠片工藝品可參照執行。

2005-01-01